(untitled) (Tạp chí Y học Cộng đồng, 2026)
Mục tiêu: Đánh giá thực trạng và nguy cơ loét tỳ đè ở người bệnh sau phẫu thuật sọ não tại Trung tâm Gây mê Hồi sức, Bệnh viện Bạch Mai năm 2025. Phương pháp: Nghiên cứu mô tả cắt ngang trên 281 người bệnh sau phẫu thuật sọ não tại Trung tâm Gây mê Hồi sức, Bệnh viện Bạch Mai năm 2025. Kết quả: Điểm nguy cơ loét tỳ đè theo thang Braden trung bình là 15,01 ± 2,90. Phân bố nguy cơ gồm: 14,59% không có nguy cơ, 34,16% nguy cơ thấp, 30,96% nguy cơ trung bình, 19,22% nguy cơ cao, và 1,07% nguy cơ rất cao. Tỷ lệ loét tỳ đè mới xuất hiện sau phẫu thuật là 29,89%, tất cả tổn thương ở giai đoạn 1-2, thường xuất hiện trong khoảng 4-14 ngày hậu phẫu. Vị trí loét phổ biến lần lượt là mạn sườn, cùng cụt, gót chân, chẩm và lưng. Kết luận: Người bệnh sau phẫu thuật sọ não có nguy cơ loét tỳ đè cao, với tỷ lệ xuất hiện mới gần 30%, chủ yếu ở giai đoạn 1-2 và tập trung tại các vị trí chịu áp lực như mạn sườn, cùng cụt, gót chân. Nghiên cứu cung cấp số liệu đặc thù cho nhóm bệnh nhân thần kinh - hồi sức, góp phần bổ sung bằng chứng thực tiễn về cơ chế sinh bệnh và định hướng chiến lược phòng ngừa